产品问题

芯片分选测试流程

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100 产品问题 芯片分选测试流程

一大片晶圆5w颗,拿其中一个小片500颗做测试,产出不同速率的成品芯片,例如53g100颗,100G300颗,100颗不良,现在系统这部分生产流程应该怎么走比较好

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